Séminaire : Etude par Microscopie Electronique à Transmission quantitative de nanocristaux enrobés dans des diélectriques

Caroline BONAFOS fera une présentation le vendredi 21 juin à 14h en salle 40 du bâtiment 40  au campus du CNRS de Cronenbourg (23 rue du Loess 67200 Strasbourg).

Titre : Etude par Microscopie Electronique à Transmission quantitative de nanocristaux enrobés dans des diélectriques

Résumé : Les nanocristaux semiconducteurs ou métalliques élaborés par des techniques dites « physiques » (implantation ionique, pulvérisation cathodique ou dépôt chimique en phase vapeur…) et enrobés dans des matrices diélectriques sont étudiés pour leurs propriétés électroniques et/ou optiques. Ces systèmes nanostructurés sont intéressants pour des applications (i) en photonique (dispositifs électroluminescents, guides d’ondes), en mettant à profit les effets de confinement quantique dans les nanostructures semiconductrices, en plasmonique en profitant de l’exaltation du champ électromagnétique grâce aux plasmons de surface des nanocristaux métalliques et, pour les deux types de nanocristaux, en microélectronique (mémoires non volatiles) en profitant de leurs propriétés de stockage de charge, voire même en photovoltaïque.  

Dans cette conférence, nous nous intéresserons aux propriétés structurales de ces nanocristaux et en particulier aux techniques de Microscopie Electronique à Transmission avancées permettant une étude quantitative sur des populations ou d’un nanocristal isolé. Le cas particulier de nanocristaux de Si enrobés dans des matrices de silice ou de nitrure de silicium sera étudié, et nous montrerons tout l’intérêt de l’imagerie filtrée en énergie (EFTEM) pour une étude quantitative complète de ces systèmes. Ensuite, deux techniques développées au CEMES et permettant la cartographie de contraintes via des mesures de déformations (l’analyse des phases géométriques et l’holographie en champ sombre) seront présentées. Nous montrerons les premiers résultats concernant l’état de contrainte de nanocristaux d’Ag individuels enrobés dans de la silice ainsi que l’intérêt de telles mesures pour comprendre les propriétés vibrationnelles de ces objets d’une part et leurs processus d’auto-organisation d’autre part.